收藏本站
我的資料
我的訂單
其他賬號登錄:
注冊
登錄
中文
中文
/
English
首頁
Home
探針臺>
150mm探針臺
200mm探針臺
300mm探針臺
大功率探針臺
硅光探針臺
低溫探針臺
探針與針座
電磁兼容測試>
場強測量
電波暗室
混響室
OTA測試暗室
橫電磁波室
GJB151A/B標準測試
RTCA DO-160G標準測試
電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)
失效分析測試設(shè)備
SAM掃描電子顯微鏡
SEM超聲波掃描顯微鏡
DM3 XL金相顯微鏡
2600-PCTxB,高功率參數(shù)化波形記錄器
聚焦離子束(FIB)編輯系統(tǒng)
蝕刻開封機
X射線檢測系統(tǒng)
半導(dǎo)體封裝設(shè)備
X射線檢測設(shè)備
推拉力測試儀
封焊機
植球機
SS30劃片機
等離子體清洗
T-8000-G貼片機
全自動貼片機
全自動點膠機
測試儀器儀表>
信號源
頻譜分析儀/信號分析儀
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
功率探頭&功率計
示波器
阻抗調(diào)諧器
電源
直流測試
誤碼儀
采樣示波器
光源
光開關(guān)
光濾波器
光衰減器
光功率計
光譜儀
光波元器件分析儀
時鐘恢復(fù)(CDR)
光波長計
OTDR
光芯片測試系統(tǒng)
測試附件>
Maury Microwave射頻微波測試附件
國產(chǎn)射頻微波測試附件
電磁兼容測試附件
FormFactor/Cascade探針臺測試附件
產(chǎn)品中心
Nav
晶圓在片測試系統(tǒng)>
THz在片測試系統(tǒng)
WAT測試系統(tǒng)
高壓在片測試系統(tǒng)
光電在片測試系統(tǒng)
硅光在片測試系統(tǒng)
射頻在片測試系統(tǒng)
失效分析在片測試系統(tǒng)
在片負載牽引測試系統(tǒng)
直流在片測試系統(tǒng)
自動測試軟件
射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案>
AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)
MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統(tǒng)
電源自動測試系統(tǒng)
多通道超寬帶信號生成和測試解決方案
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備
微波射頻前端半實物協(xié)同仿真平臺
無源-有源混合負載牽引測試系統(tǒng)
電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案>
電波暗室
GTEM橫電磁波室
混響室
OTA測試暗室
汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)
電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)
解決方案
Nav
維修
租賃
儀器儀表維修租賃
Nav
現(xiàn)貨
代測
現(xiàn)貨代測
Nav
行業(yè)資訊
社會新聞
新聞中心
Nav
公司簡介
聯(lián)系我們
招賢納士
關(guān)于信賽
Nav
150mm探針臺
200mm探針臺
300mm探針臺
大功率探針臺
硅光探針臺
低溫探針臺
探針與針座
探針臺>
場強測量
電波暗室
混響室
OTA測試暗室
橫電磁波室
GJB151A/B標準測試
RTCA DO-160G標準測試
電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)
電磁兼容測試>
SAM掃描電子顯微鏡
SEM超聲波掃描顯微鏡
DM3 XL金相顯微鏡
2600-PCTxB,高功率參數(shù)化波形記錄器
聚焦離子束(FIB)編輯系統(tǒng)
蝕刻開封機
X射線檢測系統(tǒng)
失效分析測試設(shè)備
X射線檢測設(shè)備
推拉力測試儀
封焊機
植球機
SS30劃片機
等離子體清洗
T-8000-G貼片機
全自動貼片機
全自動點膠機
半導(dǎo)體封裝設(shè)備
信號源
頻譜分析儀/信號分析儀
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
功率探頭&功率計
示波器
阻抗調(diào)諧器
電源
直流測試
誤碼儀
采樣示波器
光源
光開關(guān)
光濾波器
光衰減器
光功率計
光譜儀
光波元器件分析儀
時鐘恢復(fù)(CDR)
光波長計
OTDR
光芯片測試系統(tǒng)
測試儀器儀表>
Maury Microwave射頻微波測試附件
國產(chǎn)射頻微波測試附件
電磁兼容測試附件
FormFactor/Cascade探針臺測試附件
測試附件>
THz在片測試系統(tǒng)
WAT測試系統(tǒng)
高壓在片測試系統(tǒng)
光電在片測試系統(tǒng)
硅光在片測試系統(tǒng)
射頻在片測試系統(tǒng)
失效分析在片測試系統(tǒng)
在片負載牽引測試系統(tǒng)
直流在片測試系統(tǒng)
自動測試軟件
晶圓在片測試系統(tǒng)>
AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)
MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統(tǒng)
電源自動測試系統(tǒng)
多通道超寬帶信號生成和測試解決方案
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備
微波射頻前端半實物協(xié)同仿真平臺
無源-有源混合負載牽引測試系統(tǒng)
射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案>
電波暗室
GTEM橫電磁波室
混響室
OTA測試暗室
汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)
電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)
電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案>
維修
租賃
現(xiàn)貨
代測
行業(yè)資訊
社會新聞
公司簡介
聯(lián)系我們
招賢納士
全國服務(wù)電話:
028-61362386
產(chǎn)品分類
探針臺
150mm探針臺
200mm探針臺
300mm探針臺
大功率探針臺
微波暗室
電波暗室
:混響室
OTA測試暗室
橫電磁波室
FormFactor/Cascade探針臺
硅光探針臺
特種探針臺
探針與針座
電磁兼容測試
場強測量
GJB151B測試系統(tǒng)
DO-160G測試系統(tǒng)
民標測試系統(tǒng)
電磁兼容測試解決方案
測試環(huán)境
測試儀器儀表
射頻微波測試設(shè)備
信號源
頻譜分析儀/信號分析儀
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
功率探頭&功率計
示波器
阻抗調(diào)諧器
電源
測試系統(tǒng)與解決方案
直流測試
誤碼儀
采樣示波器
光源
光開關(guān)
光濾波器
光衰減器
光功率計
光譜儀
光波元器件分析儀
時鐘恢復(fù)(CDR)
光波長計
OTDR
光纖準直/耦合設(shè)備定制
光芯片測試系統(tǒng)
失效分析測試
半導(dǎo)體封裝設(shè)備
測試附件
Maury Microwave射頻微波測試附件
國產(chǎn)射頻微波測試附件
電磁兼容測試附件
Cascade探針臺測試附件
解決方案
晶圓在片測試系統(tǒng)
射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案
電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案
維修租賃
現(xiàn)貨代測
現(xiàn)貨
代測
文章列表
探針臺設(shè)備供應(yīng)商-成都信賽賽思科技祝您馬到成功!
[ 新聞中心 ]
[ 成都信賽 ]
2026-02-14
臺積電2納米技術(shù)已開始量產(chǎn)
[ 新聞中心 ]
[ 行業(yè)新聞 ]
2026-01-06
更好的2026,成都信賽賽思與您同行
2026-01-04
2027年全球半導(dǎo)體設(shè)備銷售額預(yù)計創(chuàng)歷史新高,達1560億美元——SEMI報告
[ 新聞中心 ]
[ 行業(yè)新聞 ]
2025-12-17
摩爾線程登陸科創(chuàng)板
[ 新聞中心 ]
[ 社會新聞 ]
2025-12-05
FormFactor/Cascade InfinityXF 探針簡介 – 重新定義晶圓級寬帶測試
2025-11-17
技術(shù)文章 | 高速數(shù)字信號測試設(shè)備的選擇-采樣示波器及相關(guān)組件的作用
[ 安立 ]
[ 行業(yè)新聞 ]
[ 新聞中心 ]
2025-09-22
高精度射頻校準在先進封裝中的應(yīng)用,降低 80GHz以上頻率的測試差異
[ 新聞中心 ]
[ 行業(yè)新聞 ]
2025-09-05
硅光芯片制造技術(shù)走向成熟,硅光晶圓測試測量全新解決方案,產(chǎn)業(yè)發(fā)展迎來新契機
2025-08-20
龍芯中科正式發(fā)布龍芯3C6000系列服務(wù)器CPU
[ 新聞中心 ]
[ 行業(yè)新聞 ]
2025-07-03
安立推出全球首款支持最高 43.5 GHz 頻率的 單端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
[ 行業(yè)新聞 ]
[ 新聞中心 ]
2025-06-26
五星評級印證了 FormFactor 在半導(dǎo)體晶圓測試解決方案領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位
[ 行業(yè)新聞 ]
[ 新聞中心 ]
2025-05-30
科普|晶圓制備及其測試
2025-04-22
2024年度“中國科學(xué)十大進展”發(fā)布!高校8項!
[ 新聞中心 ]
[ 社會新聞 ]
2025-03-28
全球前沿科技|ETS攜最新汽車EMC測試解決方案亮相EMV 2025
[ 行業(yè)新聞 ]
2025-03-26
第三代半導(dǎo)體項目新進展!涉SiC、MLED等
[ 新聞中心 ]
[ 行業(yè)新聞 ]
2025-03-13
全球全自動晶圓測試探針臺市場:2025現(xiàn)狀及未來趨勢深度剖析
[ 行業(yè)新聞 ]
2025-03-04
應(yīng)用指南| 采用MS2760A超便攜頻譜儀測試汽車毫米波雷達
2025-02-06
成都信賽賽思科技祝您新春愉快!蛇年大吉!
2025-01-24
測試分享|毫米波在大規(guī)模生產(chǎn)測試中的風(fēng)險緩解方案
2024-12-31
上一頁
1
2
3
...
7
下一頁
產(chǎn)品中心
探針臺
電磁兼容測試
失效分析測試設(shè)備
后道封裝測試設(shè)備
測試儀器儀表
測試附件
解決方案
射頻微波測試系統(tǒng)與解決方案
晶圓在片測試系統(tǒng)
電磁兼容測試系統(tǒng)與解決方案
關(guān)于我們
公司簡介
聯(lián)系我們
成都信賽賽思科技有限公司
公司地址:成都市金牛區(qū)金科南路25號前鋒西線國際501號
郵政編碼:610000
客服郵箱:s
ales@semishine.com
服務(wù)電話:028-61362386
友情鏈接:百度一下
?2026 成都信賽賽思科技有限公司 版權(quán)所有
手機版
|
蜀ICP備2022011732號-1
|
本站支持
-
-