WAT測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

WAT測試系統(tǒng)，即晶圓允收測試（Wafer Acceptance Test），是半導體晶圓在完成所有制程工藝后，針對晶圓上的電路結構進行電性能測試。

通過對WAT數(shù)據(jù)的分析，我們可以發(fā)現(xiàn)半導體制程工藝中的問題，幫助制程工藝進行調(diào)整。

典型配置

• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

• SMU 2600B 系列 SourceMeter

• 探針臺測試系統(tǒng)

產(chǎn)品應用

• 高阻抗應用的 C-V 測量

• VCSEL 測試

• 納米級設備檢定

• 材料電阻率

• MOSFET 檢定

• 激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測試

• LED 簡化的 I/V 檢定

• IDDQ 測試與待機電流測試

• 高度同步、多針、多通道、少主機生產(chǎn)系統(tǒng)