產(chǎn)品簡介
高壓在片測試系統(tǒng)專為研發(fā)設(shè)備表征/建模或利基生產(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計，可在-60°C 至 +300°C溫度范圍內(nèi)進行精確的電氣測量，適用于超低噪聲，DC，RF，mmW和THz應(yīng)用，并具有半自動和全自動操作，可用于最快時間獲取準確數(shù)據(jù)。
采用PureLine、AutoGuard 和新一代 MicroChamber 技術(shù)實現(xiàn)高準確度 IV/CV、低噪聲和 1/f 測量的最佳解決方案
可配置功率電平：
? 200V 至 3kV
? 1A 至 100A
寬動態(tài)范圍：
? μV 至 3kV
? fA 至 100A
全量程容-電壓 (C-V) 能力：
? fF 至 μF
? 支持2、3 和 4 端器件
? 高達3kV DC 偏移
典型配置
2600-PCT-xB 高功率參數(shù)測試儀
SUMMIT200全自動探針臺
產(chǎn)品應(yīng)用
IV/CV，RF/mmW，失效分析，WLR，MEMS
MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件開發(fā)應(yīng)用
