150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺>場強測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標準測試RTCA DO-160G標準測試電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統蝕刻開封機X射線檢測系統失效分析測試設備X射線檢測設備推拉力測試儀封焊機植球機SS30劃片機等離子體清洗T-8000-G貼片機全自動貼片機全自動點膠機半導體封裝設備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網絡分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統測試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測試附件國產射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件>THz在片測試系統WAT測試系統高壓在片測試系統光電在片測試系統硅光在片測試系統射頻在片測試系統失效分析在片測試系統在片負載牽引測試系統直流在片測試系統自動測試軟件晶圓在片測試系統>AM3200系列Pulsed IV測試系統MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統電源自動測試系統多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數據采集系統設備微波射頻前端半實物協同仿真平臺無源-有源混合負載牽引測試系統射頻微波測試系統和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試系統和解決方案>維修租賃現貨代測行業資訊社會新聞公司簡介聯系我們招賢納士

量子和CryoCMOS:利用先進的測試與測量工具實現計算的未來

發表時間:2024-03-01 16:25作者:DeGrave, Boiko來源:FormFactor

產品:4K低溫探針臺


先進的計算和量子計算設備需要處理器本身的低溫條件,以及將微波信號驅動到處理器的控制芯片。這些先進的器件通常包括鈮或鋁超導電路,其支持芯片基于低溫兼容的CMOS結構。將這項新技術從研發階段帶出實驗室,進入工程規模生產,并最終實現批量生產,需要專門的工具來測試、測量和部署先進設備,所有這些都在低于 4K 的環境中進行。主要瓶頸包括耗時的引線鍵合、設備冷卻前昂貴的封裝工藝以及稀釋制冷機的冷卻時間長。

FormFactor是量子計算開發人員的領先推動者,擁有一套低溫測試和測量工具以及部署解決方案。我們討論了一個客戶案例研究,該案例研究在SFQ電路上實施低溫晶圓探測,以在數小時內獲得統計數據集,否則需要數周或數月的時間,一種用于快速芯片測試的新工具,該工具利用低溫高密度MEMS探頭,可在2K以下進行光子學探測,以及在毫開爾文稀釋冰箱低溫恒溫器中部署量子器件與探針插座接口。



內容版權歸原作者所有,此處僅作分享學習使用,如有侵權,請聯系本站刪除
成都信賽賽思科技有限公司
公司地址:成都市金牛區金科南路25號前鋒西線國際501號
郵政編碼:610000
客服郵箱:sales@semishine.com
服務電話:028-61362386