量子和CryoCMOS:利用先進的測試與測量工具實現計算的未來發表時間:2024-03-01 16:25作者:DeGrave, Boiko來源:FormFactor 產品:4K低溫探針臺 先進的計算和量子計算設備需要處理器本身的低溫條件,以及將微波信號驅動到處理器的控制芯片。這些先進的器件通常包括鈮或鋁超導電路,其支持芯片基于低溫兼容的CMOS結構。將這項新技術從研發階段帶出實驗室,進入工程規模生產,并最終實現批量生產,需要專門的工具來測試、測量和部署先進設備,所有這些都在低于 4K 的環境中進行。主要瓶頸包括耗時的引線鍵合、設備冷卻前昂貴的封裝工藝以及稀釋制冷機的冷卻時間長。 FormFactor是量子計算開發人員的領先推動者,擁有一套低溫測試和測量工具以及部署解決方案。我們討論了一個客戶案例研究,該案例研究在SFQ電路上實施低溫晶圓探測,以在數小時內獲得統計數據集,否則需要數周或數月的時間,一種用于快速芯片測試的新工具,該工具利用低溫高密度MEMS探頭,可在2K以下進行光子學探測,以及在毫開爾文稀釋冰箱低溫恒溫器中部署量子器件與探針插座接口。 內容版權歸原作者所有,此處僅作分享學習使用,如有侵權,請聯系本站刪除 |