150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)>場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數(shù)化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統(tǒng)蝕刻開(kāi)封機(jī)X射線檢測(cè)系統(tǒng)失效分析測(cè)試設(shè)備X射線檢測(cè)設(shè)備推拉力測(cè)試儀封焊機(jī)植球機(jī)SS30劃片機(jī)等離子體清洗T-8000-G貼片機(jī)全自動(dòng)貼片機(jī)全自動(dòng)點(diǎn)膠機(jī)半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開(kāi)關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件>THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)>AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案>維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類

Formfactor/Cascade HPD 4K 低溫探針臺(tái)-超導(dǎo)設(shè)備測(cè)試測(cè)量

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HPD 4 K 低溫晶圓探針臺(tái)是一種高精度全自動(dòng)探針臺(tái),適用于 4 K 環(huán)境中的 150 毫米和 200 毫米晶圓。為了加速商用量子和超導(dǎo)計(jì)算機(jī)的實(shí)現(xiàn),我們?yōu)樾酒_(kāi)發(fā)人員提供了智能迭代設(shè)計(jì)所需的工具。 4 K 低溫晶圓探測(cè)器集成了可配置的 DC 和 RF 電纜,以及可用于測(cè)試配置的最大靈活性的定制探針卡。具有集成磁屏蔽的穩(wěn)健設(shè)計(jì)提供了必要的穩(wěn)定環(huán)境條件,以確保為最敏感的超導(dǎo)設(shè)備提供最高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。全自動(dòng)晶圓裝載和復(fù)雜的Velox軟件套件允許進(jìn)行高吞吐量測(cè)試和無(wú)人值守操作,以快速獲取數(shù)據(jù)。 FormFactor 的長(zhǎng)期探測(cè)專業(yè)知識(shí)和數(shù)十年的精密低溫經(jīng)驗(yàn)在該系統(tǒng)中相結(jié)合,將超導(dǎo)設(shè)備測(cè)試和測(cè)量從實(shí)驗(yàn)室?guī)刖A廠


產(chǎn)品特性

  • 晶圓溫度驗(yàn)證 <4.5 K(44 個(gè)射頻探頭接觸)

  • 磁場(chǎng)抑制<200 nT

  • 高度均勻的晶圓溫度

  • 精確的熱穩(wěn)定性和控制

  • 堅(jiān)固的花崗巖底座結(jié)構(gòu)可實(shí)現(xiàn)精確的運(yùn)動(dòng)和振動(dòng)控制

  • 輕松更換可定制的探針卡

  • 全自動(dòng)或手動(dòng)晶圓裝載選項(xiàng)

  • 用于手動(dòng)、半自動(dòng)或全自動(dòng)探測(cè)的完整軟件套件

產(chǎn)品應(yīng)用

量子計(jì)算

超導(dǎo)芯片開(kāi)發(fā)

量子信息科學(xué)


規(guī)格參數(shù)

晶圓尺寸

150毫米和200毫米

行程

+/- 112 mm XY, 0 - 13 mm Z +/- 10°Theta   

運(yùn)動(dòng)分辨率

<1 μm XYZ<0.0001°Theta

XY速度

25mm /s   

顯微鏡

50 mm XYZ分辨率<3 μm   

最低溫度

晶片溫度<4.5 K,有44個(gè)射頻探頭接觸

測(cè)量通道

56 RF連接(最高18ghz)520DC   

晶片容量

25片,晶片之間的交換時(shí)間小于15分鐘

靜止磁場(chǎng)

<200 nT   



產(chǎn)品參考 下載