FormFactor的Pharos?探針系列徹底革新了晶圓級光子學測試，既為硅光子學（SiPh）應用提供了低損耗邊緣耦合，也增強了表面耦合。該系列擁有多個版本——Pharos? Edge 短焦、長焦和垂直鏡頭——提供高精度、自動化和靈活性，滿足從工程到大規模生產環境的需求，并提供高精度光學測量。
Pharos探針旨在支持數據中心、可穿戴設備、人工智能和激光雷達等行業，確保對光學收發機、傳感器和光互連的準確可靠測試。配合FormFactor的SiPh-Tools 4.0，該系統包含AutoCal和自主硅光子學助手，提供自動化校準，簡化設置，使即使是經驗不足的用戶也能輕松完成復雜測試。
主要特征：
三種多功能版本：
短鏡頭：非常適合晶圓級溝槽，溝槽深度和工作距離較短。
長鏡頭：設計用于晶圓級V型槽，溝槽更深且工作距離更長。
豎版：針對垂直/光柵耦合耦合應用進行了優化，在晶圓級光子學技術中提供了多功能性。
低損耗邊緣耦合：
Pharos-Edge?短焦和長焦鏡頭確保晶圓級溝槽和V型溝的低損耗耦合，提供高精度光學測量，這對硅光子學測試至關重要。
自動校準支持AutoCal：
整合SiPh-Tools 4.0，AutoCal功能簡化校準流程，加快設置速度，減少手動調整需求。這帶來了更高的吞吐量和更低的運營成本。
專利透鏡與透鏡技術：
FormFactor獨特的光學透鏡和透鏡設計提供準確定位和可靠結果，用戶交互極少，確保測量可重復且精確。
