150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺>場強測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標準測試RTCA DO-160G標準測試電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統蝕刻開封機X射線檢測系統失效分析測試設備X射線檢測設備推拉力測試儀封焊機植球機SS30劃片機等離子體清洗T-8000-G貼片機全自動貼片機全自動點膠機半導體封裝設備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網絡分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統測試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測試附件國產射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件>THz在片測試系統WAT測試系統高壓在片測試系統光電在片測試系統硅光在片測試系統射頻在片測試系統失效分析在片測試系統在片負載牽引測試系統直流在片測試系統自動測試軟件晶圓在片測試系統>AM3200系列Pulsed IV測試系統MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統電源自動測試系統多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數據采集系統設備微波射頻前端半實物協同仿真平臺無源-有源混合負載牽引測試系統射頻微波測試系統和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試系統和解決方案>維修租賃現貨代測行業資訊社會新聞公司簡介聯系我們招賢納士

SS-OCT測試系統

SS-OCT測試系統
產品詳情


產品簡介

SS-OCT系統IVS-1000/2000/4000,我們可以完全根據客戶的需求來訂做,可廣泛應用于研發、可行性研究和產品開發等。該系統根據客戶的不同需求配置的不同規格的掃頻光源、訂做的干涉計和探頭。硬件、軟件可以根據客戶的需求來訂做,軟件方面可以提供 LabVIEW的程序代碼,或者SDK。


產品特性

  • 非接觸、非破壞、非侵入測量

  • 高達30fps 實時、成像

  • 1D&2D&3D的成像功能

  • 檢測數據的連續保存功能

  • 掃描角度可以自由設定

  • OCT圖像數據、實時數據的輸入、輸出

  • 根據客戶的要求定制硬件、軟件 option)

  • LabVIEW(VI文件,源代碼程序 (option)

  • 多普勒&偏光OCT(option)


產品應用

  • 工業非侵入式檢測 薄膜厚度(表面保護膜、涂層等)

  • 瑕疵檢測(合成樹脂、塑料、半導體、涂層等)

  • 生物&醫學顯微檢測


規格參數

型號

IVS-4000-ST

IVS-2000-HS

IVS-2000-ST

IVS-2000-WR

激光器類型

MEMS

Polygon Scanner

波長

中心(nm)

1665-1725

1280-1340

1315-1340

1290-1320

范圍(nm)

≥135

≥100

≥110

≥170

縱向分辨率(μm)

<18

<18

<18

<9

橫向分辨率(μm)

11

9

F40 type6

9

F60 type9

聚焦深度(mm)

0.3

0.3

F40 type0.1

0.3

F60 type0.3

成像深度(mm)

10

10

4

4



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