產品簡介
Santec對于快速掃描測試系統有著嚴格的測試標準，利用以高分辨率和高精度為標準的高速分析測試解決方案。結合Santec的TSL系列可調諧激光器與光功率計（MPM-210或MPM-200）、數據模塊（PCU-100）和自定義軟件相組合，完整的掃描測試系統優化WDL和PDL測量用于研發和生產環境。
Santec快速掃描測試系統通過實時記錄可以同時獲取可調激光器的輸出功率與經過DUT的傳輸功率，從而精確計算出WDL/PDL的數據。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。
此系統也可簡化為使用Santec 數據采集模塊(SPU-100)搭配其他光學的功率計或探測器，可廣泛用于WDL測試。
通過采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出。
另外，該系統尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過快速掃描和精確測量可有效節省時間，以確保測試設備的完整性和有效性。
產品特性
· 實時功率校正
1 數字精確/ PDL特性測試
–高功率重復性＜±0.02dB
–高重復性±0.01dB PDL
2 激光源功率自動標準化
· 調整方法
1 高波長分辨率＆高精度
2 縮短測量時間
· 支持多通道測量
· 支持LabVIEW控制軟件
1 便于建立測量參數
2 數據分析
產品應用
· 光學器件和模塊特性
--可調諧濾波器、光交叉波分復用器、光纖布拉格光柵（FBG） 、連接器
· 分離器、隔離器、開關
--WSS、波長阻斷器
--DWDM器件
· 光學材料特性
· 光學光譜
