150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺>場強測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標準測試RTCA DO-160G標準測試電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統蝕刻開封機X射線檢測系統失效分析測試設備X射線檢測設備推拉力測試儀封焊機植球機SS30劃片機等離子體清洗T-8000-G貼片機全自動貼片機全自動點膠機半導體封裝設備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網絡分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統測試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測試附件國產射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件>THz在片測試系統WAT測試系統高壓在片測試系統光電在片測試系統硅光在片測試系統射頻在片測試系統失效分析在片測試系統在片負載牽引測試系統直流在片測試系統自動測試軟件晶圓在片測試系統>AM3200系列Pulsed IV測試系統MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統電源自動測試系統多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數據采集系統設備微波射頻前端半實物協同仿真平臺無源-有源混合負載牽引測試系統射頻微波測試系統和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試系統和解決方案>維修租賃現貨代測行業資訊社會新聞公司簡介聯系我們招賢納士

RF多觸點探針

產品詳情


產品簡介


Infinity Quad

探針

Infinity Quad 探針.png

  • 多達 25 個觸點的可定制配置:RF、Eye-Pass 電源、接地、邏輯

  • 采用光刻法確定的探針針尖可在面積小到 30 μm x 50 μm 的焊盤上實現整個溫度范圍內的自動化測量

  • 在鋁焊盤上具有低且可重復的接觸電阻 (< 0.05 Ω),可確保獲得準確的結果

  • 耐用的探針結構可確保提供 > 25 萬次的接觸探查

  • 能夠在 -40°C 至 +125°C 的溫度范圍內進行測量,并不會犧牲性能或規格的準確度

ACP-Q探針

ACP-Q探針.png

  • 在單個探針模塊中提供了 DC 和 RF 的組合:一個雙探針或多達 3 個 RF 探針;最多 9 個 DC 標準探針(可根據需要提供其他數量)。

  • 利用了 ACP 針尖設計、GSG、GS 或 SG

  • DC 至 100 GHz 頻率范圍內可使用 RF 針尖

  • 可選擇鈹青銅針尖或鎢針尖

  • DC 電源針標配 100 pF 微波電容器

  • 電源旁路電感:8 nH

  • 最大 DC 電壓:無電源旁路時為 50 V(采用標準電源旁路時為 25 V,而采用定制電源旁路時依存于組件)

  • 非常適合對整個電路進行探查以完成功能測試

  • ACP 配置可支持差分信號傳輸應用

  • DC 探針能夠向被測試電路提供電源或慢邏輯

Unity探針

Unity探針.png

  • 多達 12 個觸點;任何觸點都可以是 DC、電源、邏輯(至 500 MHz)或 RF(至 20 GHz)

  • 在線設計配置工具可幫助您在短短幾分鐘內確定所需的探針

  • 所有的設計均與象限完全兼容

  • 完整的解決方案包括探針、校準基片、探針臺、附件和軟件

  • 用于滿足未來需要的可擴展架構

Multi-|Z|

探針

Multi- Z 探針.png

  • 非常適合多端口 RF / 微波和高速數字信號測試

  • 在一個探針上混合 DC 和 RF / 微波信號

  • 長壽命 —— 通常可完成 > 100 萬次降落探查

  • 可在 10 K 至 200°C 的溫度范圍內實現超卓的性能

  • 可在任何焊盤材料上進行探查,并不會造成損傷


成都信賽賽思科技有限公司
公司地址:成都市金牛區金科南路25號前鋒西線國際501號
郵政編碼:610000
客服郵箱:sales@semishine.com
服務電話:028-61362386