T-Wave 探針

產品簡介

高達1.1THz毫米波（mmW）器件和材料的晶圓級電性測量。

業(yè)界領先的毫米和亞毫米波長器件在片測試性能。T-Wave 探針設立了毫米波器件特性分析的業(yè)界標準。這款探針在測試金pad時提供了低插入損耗和低接觸電阻。具有極佳的針尖可見性。能夠對 1.1 THz 器件進行特性分析。典型插入損耗 < 1.5 dB（在 140 GHz 至 220 GHz 頻率范圍內）。集成了低阻型 GPPO 連接器和DC bias-T。

產品特性

• 低插入損耗

• 低接觸電阻

• 140 GHz 至 1.1 THz 版本

• 探針間距窄至 25 μm

• 采用光刻方法確定的探針針尖

• 鎳觸點