4200A-SCS 參數(shù)分析儀

產(chǎn)品簡介

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。

4200A-SCS 可以完全自定義且全面升級，您可以對半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括   MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

產(chǎn)品特性

• 自動實(shí)時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

• 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個性化輸出通道名稱

• 查看實(shí)時測試狀態(tài)

產(chǎn)品應(yīng)用

• 半導(dǎo)體可靠性

• 高阻抗應(yīng)用的 C-V 測量

• VCSEL 測試

• 納米級設(shè)備檢定

• 材料電阻率

• MOSFET 檢定

規(guī)格參數(shù)