4200A-SCS 參數分析儀

產品簡介

4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。

4200A-SCS 可以完全自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括   MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

產品特性

• 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

• 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個性化輸出通道名稱

• 查看實時測試狀態

產品應用

• 半導體可靠性

• 高阻抗應用的 C-V 測量

• VCSEL 測試

• 納米級設備檢定

• 材料電阻率

• MOSFET 檢定

規格參數