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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)>場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數(shù)化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統(tǒng)蝕刻開封機(jī)X射線檢測(cè)系統(tǒng)失效分析測(cè)試設(shè)備X射線檢測(cè)設(shè)備推拉力測(cè)試儀封焊機(jī)植球機(jī)SS30劃片機(jī)等離子體清洗T-8000-G貼片機(jī)全自動(dòng)貼片機(jī)全自動(dòng)點(diǎn)膠機(jī)半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件>THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)>AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案>維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類

STS半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

STS是一款可直接用于量產(chǎn)環(huán)境的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng),適用于RF、混合信號(hào)和MEMS半導(dǎo)體器件生產(chǎn)測(cè)試,有助于提高吞吐量,降低測(cè)試成本。STS可用于生產(chǎn)測(cè)試車間,支持封裝測(cè)試晶圓探針測(cè)試,而且采用標(biāo)準(zhǔn)的彈簧針排列,可實(shí)現(xiàn)高度可移植的測(cè)試程序和負(fù)載板。STS具有一套統(tǒng)一的軟件工具,可以快速有效地開發(fā)、調(diào)試和部署測(cè)試程序。

STS半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)PXI平臺(tái)、測(cè)試管理軟件和LabVIEW圖形編程結(jié)合在一個(gè)測(cè)試整機(jī)中。它的包含了生產(chǎn)測(cè)試器的所有關(guān)鍵部件,包括系統(tǒng)控制器、直流、交流和射頻儀器儀表。STS半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)利用超過1,500多種模塊化儀器,獲得一流的測(cè)量性能,覆蓋從直流到毫米波的全部頻段。采用從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)測(cè)試均適用且業(yè)界領(lǐng)先的高性能儀器,簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)并加快產(chǎn)品上市。PXI的快速測(cè)試速度、出色的正常運(yùn)行時(shí)間、更寬的測(cè)試覆蓋率和極具競(jìng)爭(zhēng)力的成本,均可幫助用戶降低總體成本。通過采用通用的軟件框架,研發(fā)階段的測(cè)試?yán)桃部蓱?yīng)用到量產(chǎn)測(cè)試中,從而節(jié)省了大量時(shí)間。


產(chǎn)品特性

全面的RF、數(shù)字和直流儀器產(chǎn)品組合您可以自定義新的STS配置并升級(jí)現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng),以納入您需要的儀器資源,同時(shí)保持測(cè)試程序和負(fù)載板的可移植性。

統(tǒng)一的軟件體驗(yàn)STS提供了標(biāo)準(zhǔn)的軟件來開發(fā)、調(diào)試和部署多級(jí)測(cè)試程序,包括引腳/通道匹配圖、測(cè)試閾值導(dǎo)入/導(dǎo)出STDF報(bào)告。

現(xiàn)成的測(cè)試代碼—使用拖放式軟件模板來完成常見的半導(dǎo)體測(cè)試任務(wù),比如連續(xù)性檢查、泄漏測(cè)試或數(shù)字圖形載入,或者RF波形生成或采集以測(cè)試5G NR等最新無線標(biāo)準(zhǔn)。

測(cè)試系統(tǒng)集成標(biāo)準(zhǔn)接口和連接設(shè)施可允許與控制器以及芯片搬運(yùn)機(jī)械臂無縫集成來進(jìn)行封裝測(cè)試,也可與晶圓探針臺(tái)集成進(jìn)行晶圓測(cè)試。

系統(tǒng)校準(zhǔn)—可對(duì)系統(tǒng)級(jí)數(shù)字和直流資源(比如彈簧探頭接口等)和直流資源(比如RF盲插等)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn),并可選擇使用矢量反嵌文件來校準(zhǔn)DUT。

服務(wù)和支持—工程服務(wù)、引導(dǎo)服務(wù)、培訓(xùn)和技術(shù)支持均可幫助您快速設(shè)置和啟動(dòng)系統(tǒng)。


產(chǎn)品應(yīng)用

RF驗(yàn)證和特性分析

混合信號(hào)驗(yàn)證和特性分析

半導(dǎo)體量產(chǎn)測(cè)試分析