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150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺>場強(qiáng)測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測試電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數(shù)化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統(tǒng)蝕刻開封機(jī)X射線檢測系統(tǒng)失效分析測試設(shè)備X射線檢測設(shè)備推拉力測試儀封焊機(jī)植球機(jī)SS30劃片機(jī)等離子體清洗T-8000-G貼片機(jī)全自動貼片機(jī)全自動點膠機(jī)半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(fù)(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統(tǒng)測試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測試附件國產(chǎn)射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件>THz在片測試系統(tǒng)WAT測試系統(tǒng)高壓在片測試系統(tǒng)光電在片測試系統(tǒng)硅光在片測試系統(tǒng)射頻在片測試系統(tǒng)失效分析在片測試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測試系統(tǒng)直流在片測試系統(tǒng)自動測試軟件晶圓在片測試系統(tǒng)>AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測試系統(tǒng)電源自動測試系統(tǒng)多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實物協(xié)同仿真平臺無源-有源混合負(fù)載牽引測試系統(tǒng)射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案>維修租賃現(xiàn)貨代測行業(yè)資訊社會新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

針座

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡介


  • 直流,射頻和光學(xué)探頭定位,實現(xiàn)最高精度測量。

  • FormFactor提供各種手動和電動探頭定位器,適用于從直流到太赫茲測量等的任何應(yīng)用。

  • FormFactor的定位器具有高穩(wěn)定性和高精度,可實現(xiàn)精確,無間隙和可重復(fù)的探針放置 - 從簡單的IV / CV測量到極具挑戰(zhàn)性的測量任務(wù)。


針座類別

型號

外觀

適配探針

直流針座

DPP105

直流針座DPP105.png

PTT直流探針

直流針座

DPP205/DPP210/DPP220

直流針座DPP205-DPP210-DPP220.png

DCP直流探針

直流針座

DPP305/DPP310

直流針座DPP305-DPP310.png

DCP直流探針

直流針座

DPP450

直流針座DPP450.png

DCP直流探針

真空/低溫針座VCP110

真空-低溫針座VCP110.png

高性能直流/射頻探針

射頻針座

RPP210

射頻針座RPP210.png

Infinity/ACP/|Z|探針

射頻針座

RPP304

射頻針座RPP304.png

Infinity/ACP/|Z| /T-Wave探針

射頻針座

RPP305

射頻針座RPP305.png

Infinity/ACP/|Z|/T-Wave探針

射頻針座

mmW Large Area Positioner

射頻針座mmW Large Area Positioner.png

Infinity/ACP/T-Wave探針

射頻針座

RPP504

射頻針座RPP504.png

Infinity/ACP/|Z|/T-Wave探針



產(chǎn)品應(yīng)用


器件表征和建模         噪聲測量(1/f)         毫米波(mmW)和太赫茲(THz)         大功率

    器件表征和建模                  噪聲測量(1/f)           毫米波(mmW)和                    大功率

                                                                                      太赫茲(THz)   



失效分析         硅光測量         MEMS         真空和低溫

        失效分析                              硅光測量                           MEMS                          真空和低溫