產(chǎn)品簡介
在多種溫度條件下實現(xiàn) “無人值守式”測試的高精度探針系統(tǒng)。對于眾多的應(yīng)用，可在 EMI 屏蔽、閉光和干燥的測試環(huán)境以及 -60°C 至 300°C 的溫度范圍內(nèi)實現(xiàn)卓越的測量性能。
產(chǎn)品特性
可針對 DC、RF、mmW、FA、WLR 等進行重新配置
適用于小型和大型多站點探針卡的完整解決方案
可在寬溫度范圍內(nèi)提供穩(wěn)定和可重復(fù)的測量
快速、安全和輕松的晶圓接觸
快速設(shè)置和測試數(shù)據(jù)收集
多種溫度下的無人值守測試
增強型光學(xué)可視化、快速設(shè)置、以及晶片內(nèi)和晶圓導(dǎo)航功能
自動晶片尺寸測量和晶圓對準(zhǔn)
實現(xiàn)了快速子晶片導(dǎo)航
產(chǎn)品應(yīng)用
IV/CV，RF/mmW，失效分析，WLR，MEMS
產(chǎn)品規(guī)格參數(shù) 下載
