產品簡介
在多種溫度條件下實現 “無人值守式”測試的高精度探針系統。對于眾多的應用，可在 EMI 屏蔽、閉光和干燥的測試環境以及 -60°C 至 300°C 的溫度范圍內實現卓越的測量性能。
產品特性
可針對 DC、RF、mmW、FA、WLR 等進行重新配置
適用于小型和大型多站點探針卡的完整解決方案
可在寬溫度范圍內提供穩定和可重復的測量
快速、安全和輕松的晶圓接觸
快速設置和測試數據收集
多種溫度下的無人值守測試
增強型光學可視化、快速設置、以及晶片內和晶圓導航功能
自動晶片尺寸測量和晶圓對準
實現了快速子晶片導航
產品應用
IV/CV，RF/mmW，失效分析，WLR，MEMS
產品規格參數 下載
