150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺>場強測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標準測試RTCA DO-160G標準測試電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試>SAM掃描電子顯微鏡SEM超聲波掃描顯微鏡DM3 XL金相顯微鏡2600-PCTxB,高功率參數化波形記錄器聚焦離子束(FIB)編輯系統蝕刻開封機X射線檢測系統失效分析測試設備X射線檢測設備推拉力測試儀封焊機植球機SS30劃片機等離子體清洗T-8000-G貼片機全自動貼片機全自動點膠機半導體封裝設備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網絡分析儀功率探頭&功率計示波器阻抗調諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關光濾波器光衰減器光功率計光譜儀光波元器件分析儀時鐘恢復(CDR)光波長計OTDR光芯片測試系統測試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測試附件國產射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件>THz在片測試系統WAT測試系統高壓在片測試系統光電在片測試系統硅光在片測試系統射頻在片測試系統失效分析在片測試系統在片負載牽引測試系統直流在片測試系統自動測試軟件晶圓在片測試系統>AM3200系列Pulsed IV測試系統MT1000/MT2000 系列有源負載牽引測試系統電源自動測試系統多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數據采集系統設備微波射頻前端半實物協同仿真平臺無源-有源混合負載牽引測試系統射頻微波測試系統和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統電磁兼容民用設備測試系統電磁兼容測試系統和解決方案>維修租賃現貨代測行業資訊社會新聞公司簡介聯系我們招賢納士

有史以來最快半導體可大幅提升計算機芯片速度

發表時間:2023-10-31 10:03作者:李惠鈺來源:中國科學報
有史以來最快半導體可大幅提升計算機芯片速度

一種“超原子”材料已經成為已知速度最快的半導體,并可能使計算機芯片的速度提高數百或數千倍。近日,美國哥倫比亞大學的Milan Delor和同事在一種化學式為Re6Se8Cl2的材料中發現了這種更快、更高效的半導體,它由錸、硒和氯組成。相關論文發表于《科學》。

傳統的半導體電路板是用硅制成的。圖片來源:aPhoenix photographer/Shutterstock

實際上,被稱為激子的粒子在這種材料中的移動速度比電子在硅中的移動速度要慢,但至關重要的是,它們以箭頭直線移動,因此它們移動相似距離的速度要快得多。

計算機芯片晶體管中使用的硅半導體依靠電子流來傳輸數據,但這些粒子往往會瘋狂地散射,以熱量的形式浪費能量,并減慢數據從A到B的時間。

如果用這種新材料制造使用激子而不是電子的晶體管,那么它們就可以從晶體管的一側移動到另一側而不會發生散射,這將使它們從A到B的速度比硅片中的電子快100到1000倍。

“借助新材料,原則上晶體管的開關速度可以達到數百千兆赫甚至太赫茲。”Delor說,“我們預測性能的提升將是巨大的。”

Delor說,使用這種材料的計算機芯片還需要幾十年的時間。工程師需要花幾十年時間來完善硅片的制造技術,而改用新材料基本上會讓他們回到原點。錸是地殼中最稀有的元素之一,而硅是第二豐富的元素,因此使用Re6Se8Cl2制造的芯片可能會用于航天器和量子計算機等。(來源:中國科學報 李惠鈺)

相關論文信息:https://doi.org/10.1126/science.adf2698


內容版權歸原作者所有,此處僅作分享學習使用,如有侵權,請聯系本站刪除
成都信賽賽思科技有限公司
公司地址:成都市金牛區金科南路25號前鋒西線國際501號
郵政編碼:610000
客服郵箱:sales@semishine.com
服務電話:028-61362386